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飛納電鏡射擊殘留物分析（GSR）的背散射成像，用來掃描樣品和發(fā)現(xiàn)可疑的 “GSR" 顆粒。一旦發(fā)現(xiàn)可疑的顆粒，使用能譜（EDS）識(shí)別在該粒子中的元素。zui常見的搜索元素為 Pb，Sb 和 Ba。無鉛底火的檢測，例如 Ti 和 Zn 也可為搜索條件進(jìn)行搜索。
飛納電鏡射擊殘留物分析（GSR）是在臺(tái)式掃描電鏡運(yùn)行自動(dòng)射擊殘留物分析軟件。其設(shè)計(jì)基于飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL。軟件和硬件*一體化，以提高用戶操作界面友好性，可靠性和分析速度。Phenom GSR 包括以下三個(gè)項(xiàng)目：自動(dòng)射擊殘留物分析和分類軟件包，BSED 和 EDS 探頭內(nèi)部集成，校準(zhǔn)試樣。
配備 CeB6 燈絲，使其穩(wěn)定運(yùn)行，燈絲壽命不低于 1500 個(gè)小時(shí)，從可用性，適用性和運(yùn)行時(shí)間的角度來看都非常理想。小于 1 分鐘的加載時(shí)間，和快速的全自動(dòng)馬達(dá)樣品臺(tái)，使得飛納 GSR 成為高度自動(dòng)化應(yīng)用的理想工具，可以用來進(jìn)行自動(dòng)射擊殘留物分析。
飛納電鏡射擊殘留物分析 Phenom GSR
基于 CeB6 燈絲的高分辨圖像
直觀易用的 GSR 軟件
高吞吐量，一次性放置多達(dá) 36 個(gè)試樣
操作簡單，*丟失導(dǎo)航系統(tǒng)，*集成能譜儀
測量結(jié)果準(zhǔn)確可靠，廣泛兼容法醫(yī)領(lǐng)域的各類應(yīng)用
規(guī)格參數(shù)
| 光學(xué)放大： | 3 - 16 X |
| 電子光學(xué)放大 | ：200,000 X |
| 分辨率 | 優(yōu)于 8 nm |
| 數(shù)字放大 | Max. 12 X |
| 光學(xué)導(dǎo)航相機(jī) | 彩色 |
| 加速電壓 | 4.8 Kv - 20.5 Kv 連續(xù)可調(diào) |
| 真空模式 | 高分辨率模式 降低核電效應(yīng)模式 高真空模式 |
| 探測器 | 背散射電子探測器 二次電子探測器 (選配) |
| 樣品尺寸 | zui大 100 mm X 100 mm 可同時(shí)裝載 36 個(gè) 0.5 英寸樣品臺(tái) |
| 樣品高度 | zui高 65 mm，樣品高度全自動(dòng)調(diào)節(jié) |
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