飛納掃描電鏡結合孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng),能夠輕松生成并分析掃描電鏡(SEM)圖像。一體化孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)能夠使用戶獲得孔徑的分布狀態(tài)、孔隙參數如孔徑尺寸和長寬比。全自動化的孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)提供超越光學顯微鏡觀察水平的結果,帶來進一步的探索和創(chuàng)新。生成報告時,可以把柱狀圖和生成的圖像以選定的格式輸出。
孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)使用戶更好地了解材料特性,可以提取出完整的孔徑詳細信息。孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)拉開了孔徑測量軟件的大幕。在探究多孔結構對材料孔隙率和過濾工藝的影響時,這種分析尤其重要。
1)從飛納電鏡中直接獲取圖像
2)測量孔徑的屬性數據,如面積、長軸、短軸等
3)操作快捷方便,提高工作效率,使工作安排簡單化可預測
4)圖像采集自由化,數據可存儲在網絡和 U 盤,便于分享、交流和參閱
5)導出統(tǒng)計數據時,可同時導出清晰圖片
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